揚名電子 Knowledge Base 存取控制缺陷 - HITCON ZeroDay

Vulnerability Detail Report

Vulnerability Overview

  • ZDID: ZD-2021-00425
  •  發信 Vendor: 揚名電子
  • Title: 揚名電子 Knowledge Base 存取控制缺陷
  • Introduction: 存取控制缺陷 (Broken Access Control)

處理狀態

目前狀態

公開
Last Update : 2021/09/20
  • 新提交
  • 已審核
  • 已通報
  • 未回報修補狀況
  • 未複測
  • 公開

處理歷程

  • 2021/07/21 14:28:16 : 新提交 (由 Spider 更新此狀態)
  • 2021/07/21 23:23:31 : 審核完成 (由 HITCON ZeroDay 服務團隊 更新此狀態)
  • 2021/07/23 12:26:53 : 修補中 (由 HITCON ZeroDay 服務團隊 更新此狀態)
  • 2021/07/23 12:26:53 : 審核完成 (由 HITCON ZeroDay 服務團隊 更新此狀態)
  • 2021/07/23 12:26:53 : 修補中 (由 HITCON ZeroDay 服務團隊 更新此狀態)
  • 2021/09/20 03:00:04 : 公開 (由 HITCON ZeroDay 平台自動更新)

詳細資料

  • ZDID：ZD-2021-00425
  • 通報者：lucasyang (Spider)
  • 風險：中
  • 類型：存取控制缺陷 (Broken Access Control)

參考資料

攻擊者可經由該漏洞取得、修改、刪除系統中的其他使用者的資料，或連線至高權限使用者的頁面。

OWASP Top 10 - 2017 A5 - Broken Access Control
https://www.owasp.org/index.php/Top_10-2017_A5-Broken_Access_Control

CWE-284: Improper Access Control
https://cwe.mitre.org/data/definitions/284.html
(本欄位資訊由系統根據漏洞類別自動產生，做為漏洞參考資料。)

相關網址

http://59.124.115.45:8090/display/LOS/SMARC-iMX8_imx_5.4.70_2.3.0
http://developer.embedian.com/display/yoctoonsmarc/SMARC+T3354+ProcessorSDK04010006

敘述

Knowledge Base 存取控制缺陷，未經授權可以瀏覽與下載該公司內部KM資料。
圖片
圖片

擷圖

留言討論

聯絡組織

 發送私人訊息
您也可以透過私人訊息的方式與組織聯繫，討論有關於這個漏洞的相關資訊。
;